新品发布！ YAMABUN山文电气 薄膜测厚仪 TOF-4R05

新品发布！ YAMABUN山文电气  薄膜测厚仪 TOF-4R05 

新品发布！ YAMABUN山文电气  薄膜测厚仪 TOF-4R05 

接触式桌面薄膜和薄膜厚度测量系统

模型TOF-4R05

方法接触类型

目标胶片，片

原理线性轨距（2件）

在塑料薄膜与片材的生产过程中，厚度均匀性是衡量产品质量的核心指标之一。日本YAMABUN山文电气作为专注薄膜及片材测厚系统制造的专业厂商，自1971年创业以来已深耕该领域超过三十年，累计出货量位居日本塑料行业，其研发的非接触式在线激光测厚装置NME-RM及NSM-RM，正是为PP、PS、多层薄膜及各类片材量身打造的高精度品质管控方案。

产品特性

操作简单快捷

测量数据的实时显示在屏幕上

自动将测量数据保存到电脑上

由于自动馈送，测量数据无个体差异

使用蛛网图调整吹片

立即通过安装在Windows电脑中来使用厚度测量系统

产品规格

测量范围0.03~3毫米

测量长度10~10000毫米

测量音高1毫米~

最小显示值0.5微米

测量力0.6±0.1 N

电源交流电100~240V 50/60Hz

环境温度5~40°C

湿度35~80%（无凝结）

功耗50 VA（不含计算机）

选项·个人电脑

·各种接触芯片