新品发布! YAMABUN山文电气 TOF-5R01 薄膜测厚仪

更新时间：2026-04-24

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离线式厚度测量系统是一种紧凑的桌面式。胶片或片张被剪成条状并进行测量。主要特点是任何人都能轻松快速地测量，无论技术如何，因为测量和自动转移同时进行。

它常用于质量控制部门和研发领域。由于测量图也可以制作成环形，因此常用于吹膜制造现场。

模型TOF-5R01

方法接触类型

目标电影

原理线性规范

产品特性

操作简单快捷

测量数据的实时显示在屏幕上

自动将测量数据保存到电脑上

由于自动馈送，测量数据无个体差异

使用蛛网图调整吹片

立即通过安装在Windows电脑中来使用厚度测量系统

产品规格

测量范围0.02~0.2毫米

测量长度10~10000毫米

测量音高0.1毫米~

最小显示值0.1微米

测量力0.3±0.01 N

电源交流电100~240V 50/60Hz

环境温度5~40°C

湿度35~80%（无凝结）

功耗50 VA（不含计算机）

选项·个人电脑

·各种接触芯片

新品发布! YAMABUN山文电气 TOF-5R01 薄膜测厚仪

核心工作原理

该系列测厚仪采用非接触式激光扫描测量方式，通过激光传感器对整幅片材进行横向扫描，直接测量材料的物理厚度，而非通过基重进行推算。传感器以最高100毫米/秒的速度扫描，测量宽度最高可达3000毫米，测量间距最小为1毫米，最小显示值精细至0.1微米，满足严苛的精度要求。

技术亮点

直接测厚，不受材质影响。 采用激光类型/参考辊法测量原理，直接获取厚度数据，不受片材材质、颜色、图案或表面状态的影响，对泡沫片材、多孔片材同样适用。

全宽扫描，数据一目了然。 传感器对全幅宽度进行扫描测量，往返行程的厚度分布以趋势图形式显示在专用监视器上，同时呈现最大值、最小值、平均值及标准偏差，片材的整体厚度状态一目了然。