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更新时间:2026-10-17
浏览次数:11在半导体、碳化硅、光电基板精密制程中,晶圆与超薄基板的拾取转移,对静电防护、负压稳定性、低发尘、操作安全性提出严苛要求。
日本 FLUORO 福乐 C003-D-Y-161 属于 C 系列导电型常开真空吸笔,搭载 NO 常开阀体 + 独立吸力锁止机构,161mm 加长杆搭配 Y 型固定式接头,
依靠导电 PEEK 吸嘴与碳纤维导电尼龙笔身构建完整 ESD 防护体系,专为洁净室内 2~12 寸晶圆、陶瓷基板、光学薄片无损伤搬运设计,
广泛应用于晶圆检测、划片、研磨、封装等精密工位。本文从型号释义、结构原理、材料特性、技术参数、应用场景及选型要点展开介绍。
C003-D-Y-161 型号每段编码对应产品配置,便于快速识别选型:
C003:C 系列导电型笔身,NO 常开阀体 + 独立吸力锁止开关,大流量阀体,吸力优于 C002 系列,适配面积偏大工件;
D:标准直型本体结构;
Y:Y 型固定式接头;
161:加长杆长度 161mm,适合深腔、受限空间内工件拾取操作。
C003-D-Y-161 为手持常开式真空吸笔,整机由导电吸嘴、加长杆、笔身主体、氟树脂阀芯、锁止拨动开关、释放按钮及真空管路接口组成。真空源接入吸笔管路,
待机状态下阀体保持常开;当 Y 型导电吸嘴贴合工件表面,负压建立,实现吸附。该型号最大亮点是独立吸力锁止结构:拨动锁止开关,负压可保持锁定,
操作人员可松开手指进行对位、移位;工件就位后,轻按释放按钮即可快速破真空,完成工件脱离。Y 型吸嘴多点支撑布局,吸附受力均匀,大幅降低大尺寸晶圆、
薄基板局部应力集中,有效减少崩边、翘曲、表面划伤风险;吸嘴支持原厂快拆更换,兼容 94-CP、95-CP、96-CP、97-CP、98-CP、99-CP 多款吸嘴头,
单支吸笔可切换不同拾取头,适配多种基板规格,降低耗材库存成本。
半导体器件对静电放电极其敏感,微小静电可造成晶圆线路性击穿。C003-D-Y-161 采用全链路防静电材料设计:
笔身:碳纤维增强导电尼龙树脂,轻量化同时具备高刚性,表面电阻率稳定控制在 10⁶~10⁸Ω 区间,满足半导体 ESD 管控标准,可快速泄放表面静电荷,
抑制静电积累;材料耐洁净室常用溶剂擦拭,耐磨,低发尘,适配 Class10~1000 洁净环境。
吸嘴:导电 PEEK(碳纳米管 + 碳纤维填充),兼具高强度、低析出、防静电特性,接触工件表面不会产生划痕,耐高温,耐酸碱有机溶剂。
阀芯:氟树脂密封结构,密封性能稳定,负压保压能力强,长时间反复操作不易漏气,密封件寿命长,减少频繁维护。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 型号 | C003-D-Y-161 |
| 阀门类型 | NO 常开 + 独立吸力锁止开关 |
| 接头形式 | Y 型固定式接头 |
| 加长杆长度 | 161mm |
| 表面电阻率 | 10⁶~10⁸Ω |
| 工作负压范围 | 0~-80kPa,支持无级调压 |
| 适配软管 | Φ3×Φ5 / Φ4×Φ6 |
| 配套真空源 | FV-10-240 / FV-30 / FV-60 |
| 适用洁净等级 | Class10~1000 洁净室,干式工况 |
| 适配工件 | 2~12 寸硅晶圆、SiC 碳化硅基板、光学玻璃、陶瓷基板、光伏薄片 |
半导体晶圆制程:晶圆来料检验、AOI 光学检测、划片前后取样、晶圆贴膜、研磨抛光、裂片转移;探针台工位样品拾取,晶圆临时对位摆放。
芯片封装测试:大尺寸基板、载片精密转移,无损伤取放,避免器件静电击穿。
光电与先进材料行业:光学滤光片、陶瓷薄板、碳化硅、氮化铝基板、超薄光伏薄片搬运,满足洁净、低应力拾取需求。
常开阀体特性:NO 常开结构,管路一通气即具备负压,搭配锁止开关,适合连续取样、长距离移位作业;如果是短频快速拾取场景,可对比 NC 常闭型吸笔。
161mm 加长杆优势:针对腔体内部、载台深处、治具遮挡等普通短杆吸笔无法抵达的工位,提升操作空间,但长杆使用时注意控制吸附姿态,
避免侧向力造成晶圆破损。
负压调节:需搭配调压阀,根据基板厚度、尺寸调节负压,薄晶圆应降低负压,防止工件形变。
维护管理:洁净室内使用,定期清洁吸嘴,检查氟树脂阀芯密封;吸嘴属于耗材,出现磨损、发白、开裂需及时更换,避免划伤晶圆。
FLUORO 福乐 C003-D-Y-161 防静电真空吸笔,将常开阀体、负压自锁机构、Y 型均衡吸附、加长杆结构与全导电防静电材料融为一体,
解决洁净室深腔工位中大尺寸薄基板、晶圆拾取的静电、崩边、操作不便等痛点。作为半导体前道、封装、第三代半导体产线的常用手持拾取工具,
在兼顾操作便捷性与制程良率保护方面具备明显优势,是晶圆实验室、中试线及量产检验工位的优选精密搬运工具。