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多通道分光光谱仪
多通道分光光谱仪
本公司的MCPD series,由于采用柔软纤维的事,从In-Situ到内联各种各样的地方和用途的编入成为可能。测量原理为分光干涉方式,在实现高测量再现性的同时,还支持多层厚度测量。
特 点
● 膜厚测量范围65nm~92μm(换算为SiO2)
● 最短曝光时间1ms~※根据规格
● 由于是柔性纤维光学系统,容易组装到半导体工艺装置中
● 可从上层远程控制
● 适合于研磨中膜厚终点检测
基本配置

装置组装示意图

测量案例

适应过程示例
CMP工艺
蚀刻工艺
成膜工艺
MCPD-6800仕様
| 型号 | MCPD-6800 | |||
2285C | 3095C | 3683C | 3610C | |
| 测量波长范围(nm) | 220~850 | 300~950 | 360~830 | 360~1000 |
| 膜厚范围※ | 65nm~35μm | 65nm~50μm | 65nm~45μm | 65nm~49μm |
| 膜厚/反射/透过/相位差/色测量 | 〇 | |||
| 扫描时间 | 16ms~65s | |||
| 光斑直径 | φ1.2mm | |||
| 光纤长度 | 1m~ 长度需相商 | |||
代理品牌:CCS晰写速 SEN日森、EYE岩崎、REVOX莱宝克斯、SERIC索莱克
SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、NPM日脉 、SUGIYAMA杉山
NS日本科学、DRY-CABI东利繁、TOKISANGYO东机、SIBATA柴田
优势品牌:USHIO牛尾、TOPCON拓普康、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西、 HAYASHI 林时计
SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC
S-VANS斯万斯、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光学
AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野
IMV艾目微、MITUTOYO三丰、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三荣
HEIDON新东、KURABO仓纺、SHOWA昭和、THINKY新基