产品分类
ProductsXRF通过测量样品受X射线激发后发射的特征荧光X射线,实现元素成分定性与定量分析,适用于金属、矿物、塑料等材料。
激发源:X射线管(Rh靶)或放射性同位素(如Co-57)。
能量色散(EDXRF):硅漂移探测器(SDD)分辨元素特征能量。
波长色散(WDXRF):分光晶体分离不同波长,精度更高。
参数 | 典型值 |
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元素范围 | Be(4)~ U(92) |
检测限 | ppm级(重金属元素) |
分析速度 | 10~300秒/样品 |
样品室尺寸 | 可容纳直径300 mm样品 |
RoHS检测:电子元件中Pb、Cd、Hg等有害元素筛查。
地质勘探:矿石中金属元素品位快速评估。
镀层分析:测量电镀层厚度(如Zn镀层0~50 μm)。
台式 vs 便携:实验室分析选台式(如Shimadzu EDX-7000),现场检测选手持式(如Olympus Vanta)。
真空系统:轻元素(Na、Mg)检测需真空或氦气环境。