新品发布！ YAMABUN山文电气TOF-C2非接触式测厚仪

新品发布！ YAMABUN山文电气TOF-C2非接触式测厚仪

新品发布！ YAMABUN山文电气TOF-C2非接触式测厚仪

在塑料薄膜与片材的生产过程中，厚度均匀性是衡量产品质量的核心指标之一。日本YAMABUN山文电气作为专注薄膜及片材测厚系统制造的专业厂商，自1971年创业以来已深耕该领域超过三十年，累计出货量位居日本塑料行业，其研发的非接触式在线激光测厚装置NME-RM及NSM-RM，正是为PP、PS、多层薄膜及各类片材量身打造的高精度品质管控方案。

离线式厚度测量系统是一种紧凑的桌面式。胶片或片张被剪成条状并进行测量。主要特点是任何人都能轻松快速地测量，无论技术如何，因为测量和自动转移同时进行。

它常用于质量控制部门和研发领域。由于测量图也可以制作成环形，因此常用于吹膜制造现场。

模型TOF-C2

方法电容类型（非接触式）

目标粘性保护膜，即容易吸附灰尘的薄膜

产品特性

非接触式

基重测量

操作简便

产品规格

测量范围~500微米

测量长度10~10000毫米

测量音高1毫米~

最小显示值0.01微米

电源交流电100~240V 50/60Hz

环境温度5~40°C（温差：1°C以内）

湿度35~80%（无凝结）