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更新时间:2026-04-16
浏览次数:7新品发布! 日本OTSUKA大塚电子Smart膜厚仪
新品发布! 日本OTSUKA大塚电子Smart膜厚仪
您在测量膜厚时是否曾遇到过这些困扰?
“无法在现场即时完成测量"“测量结果因人而异"“测量精度不尽如人意"?
智能膜厚测量仪具备以下特点,为您解决所有烦恼:
● 可随身携带至生产现场的手持式设计
● 操作简便,新人也能轻松上手
● 虽为手持设备却可实现高精度测量
● 支持对三维样品进行无损检测
产品信息
特点
● 可携带至现场的手持式
● 可测量0.1μm单位
● 具有形状的样品也可非破坏的测量
● 不论基材材质、可测量其镀膜
测量项目
膜厚测量范围 | 1μm~50μm |
测量重复性 | 0.01μm |
测量时间 | 1秒以下 |
Smart手持式膜厚仪与其他膜厚仪的比较
●与桌上型光学膜厚仪相比,Smart膜厚仪在“现场"以非破坏式直接量测样品,且可以量测特殊形状样品。

●与接触式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品,也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。

●与涡电流/电磁式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不需要制作检量线,且可以量测非金属基材并且得到绝对值!

不需要量测经验,可快速得到精准的膜厚结果。

规格样式
量测原理 | 反射分光法(光干涉法)、非破坏性量测 |
膜厚量测范围 | 1~50μm(显示上限60μm) |
重复精度 | 2.1σ 0.01μm(SiO2膜1μm) |
量测时间 | 1秒内 |
量测层数 | 1层 |
数据输出 | 附属操作屏幕显示或以USB输出Excel档案 |
量测Spot | Φ1mm以下 |
重量 | 约1.1kg |