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ProductsX射线衍射仪(XRD)是通过分析材料对X射线的衍射图谱,确定晶体结构、物相组成的精密分析仪器,广泛应用于材料科学、化工、矿物学等领域。
X射线源:铜靶(Cu Kα, λ=1.5418 Å)或钼靶(Mo Kα)产生特征X射线。
衍射条件:遵循布拉格方程 ,通过检测衍射角θ计算晶面间距d。
探测器:闪烁计数器(SC)或二维面探(如HyPix-3000)。
测角仪:精度±0.0001°(高分辨型)。
样品台:多轴自动调整,支持粉末、薄膜、块体样品。
数据处理软件:JADE、HighScore等用于全谱拟合与物相检索(匹配ICDD数据库)。
催化剂研发:分析氧化铝载体晶型(γ-Al₂O₃ vs. α-Al₂O₃)。
制药:药物多晶型鉴别(如利托那韦不同晶型的溶出度差异)。
金属材料:残余应力测定(sin²ψ法)。
分辨率:科研级需<0.01°(如Rigaku SmartLab)。
附件扩展:小角散射(SAXS)、高温腔(1600℃)。