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Products激光粒度分析仪基于米氏散射原理,通过测量颗粒对激光的衍射角度分布,计算0.01μm-3500μm范围内的粒径数据。设备核心模块包含:632nm氦氖激光器、多元光电探测器阵列(如Malvern Mastersizer 3000采用132个检测单元)及干湿法分散系统(湿法需搭配超声循环池)。
在催化剂生产中,该仪器可监控氧化铝载体粒径分布(D50控制±0.5μm);纳米材料领域用于评估碳管分散性(PDI指数<0.1为优)。操作时需注意折射率参数设置(如二氧化硅设为1.46),并定期校准标准样品(如NIST可追溯乳胶球)。部分型号如Beckman Coulter LS 13 320支持动态图像分析(DIPA),可同步获取颗粒形貌数据。
工作原理:基于米氏散射理论,通过激光衍射测量颗粒分布
关键技术指标:
测量范围:0.01μm-3500μm
重复性误差:<1%
分散系统:干法/湿法可选
应用领域:
催化剂载体粒径控制
纳米材料分散性评估
粉体工艺质量监控
操作要点:
样品预处理需避免团聚(超声分散30秒)
折射率参数设置直接影响精度