YAMADA山田 半导体晶圆检查灯 YP-150I
半导体晶圆检查灯是半导体制造过程中的专业照明设备，专门设计用于晶圆生产过程中的缺陷检测和质量控制环节。

YAMADA山田 半导体晶圆检查灯 YP-150I

YAMADA山田 半导体晶圆检查灯 YP-150I

半导体晶圆检查灯是半导体制造过程中的专业照明设备，专门设计用于晶圆生产过程中的缺陷检测和质量控制环节。随着半导体工艺节点不断缩小（从微米级发展到现在的纳米级），对晶圆表面缺陷的检测要求越来越高，专业的检查照明系统成为确保芯片良率的关键因素之一。

现代半导体晶圆检查灯采用优良的光学技术和精密的光源设计，能够提供均匀、稳定且特定波长的高质量照明，帮助检测人员或自动光学检测(AOI)系统识别晶圆表面的微粒污染、划痕、图案缺陷、残留物等各种异常情况。这些设备通常集成在洁净室环境中，满足半导体制造对洁净度和稳定性的严苛要求。

半导体晶圆检查灯的特点

1. 精密光谱控制

半导体晶圆检查灯具备精确的光谱控制能力，可提供特定波长的单色光或多色光组合。不同波长的光对各类缺陷的显现效果不同，例如短波长光（如紫外或深蓝光）对微小颗粒和表面拓扑结构更敏感，而长波长光可能更适合检测某些薄膜缺陷。

2. 高均匀性照明

检查灯设计确保照明区域内的光强分布高度均匀，通常均匀性可达90%以上，避免因照明不均导致的检测误差。优良的导光技术和光学扩散系统是实现这一特性的关键。

3. 可调光强与稳定输出

设备提供宽范围的光强调节功能，同时保持出色的光强稳定性（通常波动小于1%），确保长时间检测过程中的一致性，避免因光强波动导致的误判。

4. 多角度照明设计

专业的晶圆检查灯常配备多角度照明选项，包括同轴光、环形光、侧向光、暗场照明等不同模式，以适应不同类型缺陷的检测需求。例如，同轴光适合表面污染检测，而暗场照明对划痕和拓扑缺陷更敏感。

5. 洁净室兼容性

检查灯采用无尘设计，材料选择上避免产生微粒污染，符合ISO 14644-1洁净室标准。同时具备低发热特性，减少热对流对洁净室气流的影响。

6. 智能化控制

现代设备配备数字控制系统，支持预设照明方案、自动调节、远程控制等功能，并能与自动检测系统无缝集成，实现高效的工作流程。